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测试仪500M SMD离子污染
测试仪500M SMD离子污染图片
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产 品: 测试仪500M SMD离子污染 
型 号: 500M SMD  
品 牌: 美国SCS 
单 价: 130000.00元/台 
最小起订量: 1 台 
供货总量: 1000 台
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
更新日期: 2015-02-27  有效期至:长期有效
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测试仪500M SMD离子污染详细说明
 美国500M SMD离子污染测试仪 测试仪500M SMD离子污染

品牌/型号:SCS/Ionograph 500M SMD

类型:数字式电阻测量仪表

重量:150(kg)

美国SCS Ionograph 500M SMD 离子污染测试仪,离子交换柱如需更详细资料或报价请资询美国SCS Ionograph 500M SMD 离子污染测试仪Ionograph 500M采用动态测试方式。在腔体萃取溶液流过部件来溶解污染物,然后流入管路,溶液通过探头,由探头连续采集萃取溶液的电阻率,数据由计算机中运行的软件进行积分,其后溶液由泵,泵入离子交换柱进行净化,最后再流回测试腔体,实现萃取溶液的循环。萃取溶液可以比静态溶液实现更高的溶解性和离子化,因为测试后再循环的溶液是超净的。污染物读数的增量是一段时间的累加或集成。最后的污染物数值与标准NaCl相比较而得出NaCl质量/区域的数值。技术参数:

1.名称:Ionograph 500M2.厂牌:SPECIALTY COATING SYSTEMS3.电源:240V;50HZ;8AMPS单相4.型号(测试槽尺寸).:Ionograph 500M SMD IV(26 ×

30、20 ×

26、18 × 20)Ionograph 500M SMD II (26 ×

30、20 ×

26、18 × 20)Ionograph 500M LP(14 × 20)Ionograph 500M STD(12 × 14)Ionograph 500M SP(6 × 6)5.储液槽容量:Ionograph 500M SMD IV/ II 7 —12 GALIonograph 500M LP/STD/SP 5GAL/2.7/0.86.加热能力:Ionograph 500M SMD IV/ II 113F/45 ° 符合工业标准:MIL-STD —2000AIPC —TM —650ANSI/J —STD —001B 特点:1.采用电脑控制2.测试结果便于可存储查阅3.维护简单 离子交换柱-美国SCS OMEGAMETER 600SMD配件FP-92-1000 D.I. 17" Column for Omega 600SMD美国原装进口。离子污染测试仪常用耗材:1 75I/99I测试液 15 Gals of Testsolution 75I ( 5 gal/can) ( 3 can/kit)2离子交换树脂3打印机4键盘5打印色带6打印纸7主板8打印转换卡9泵浦10打印控制卡11显示屏12电磁阀13按键14探头15 #3标准液 SCS离子污染测试仪离子污染检测仪离子交换柱 品牌:SCS型号:Omegameter600SMD Ionograph500MSMDⅡ产地:美国500M采用 动态测试 方法;600SDMD采用 静态测试 方法。

供应配件:离子交换柱,离子污染测试仪专用主板,离子污染测试仪专用探头,NaCl化学校正液,离子污染测试仪专用打印机组,离子污染测试仪用离子交换树脂,离子污染测试仪用防爆型循环泵浦,离子污染测试测试液等。

Omegameter600SMD利用具有悠久历史的工业标准的 静态测试 方法可以对PCB和组装电路板进行测试。此设备可以进行加热、萃取溶液扰动,可以去除并准确测量从电路板制造和电路板组装两个不同方面产生的工业残余的污染结果。

600 SMD型作为高效和典型的质量保证工具,可以适应广泛的商业应用;系统提供准确、可重复及迅速确定清洁度的方法;符合MIL-STD-2000A、IPC-TM-650和ANSI/J-STD-001B工业标准。

Ionograph500M系列动态离子污染测试仪(动态测试方法) 500M SMD II离子污染检测仪是一个标准模块化、低成本仪器设计用于离子污染检测和其相关的过程控制。其通过运行于PC的PowerView2003专用软件控制,模块使用异丙醇/D.I水作为萃取介质,采用动态测量方法对产品进行快速无损的测试。

500M SMD II能够测量被引入的电子元件和电路板的质量,评估助焊剂污染及监视表面清洁度,污染测试能够用于免清洗过程控制,控制裸板或组装后的电路板的水或半水清洗过程,洁净车间特殊产品的清洁度的检测,如手套、工装夹具、组装工具及关键的组装部件等。

离子污染测试仪OMEGAMETER 600SMD 美国SCS OMEGAMETER 600SMD 离子污染测试仪600SMD离子污染测试仪通过监控混合液中所含离子的电阻大小从而得出所所含离子的数量。在测试的开始时,系统的检测器和记录器会根据测试槽内最初的离子含量建立一个基准数据,然后计算在测试的过程中增加的离子量,当所有的离子溶解入测试液中时,就可达到一个平衡的数值。在测试通孔的板时,这些操作大约需要5-10分钟,测试SMD的板时,大约需要30-45分钟。测试结束后,最后的离子含量水平,会编成一份微观图,包括NaCl/sq.inch 、测试的参数以及根据设定的标准是否合格情况,在进行下一次测试之前,通过仪器内的除离子系统清洁测试液,从而达到再生的功能,并且建立新的基准水平。600SMD离子污染测试仪是先进的仪器600SMD离子污染测试仪是一个功能齐全的微处理器控制仪器,采用非破坏式的测试方法,适合用于检测印制线路板和相关部件的离子含量。根据测试液中电阻的变化来测试离子的含量。利用加热测试液至大约120 °F并且结合了喷水器的冲刷,从而更有效的提高了清洁度,对于高密度的SMT产品可以达到90%--95%的清洁度。

OMEGA离子污染测试仪600SMD一.说明:显示提示------屏幕清楚的显示操作者输入的信息,并且提供继续操作的提示给测试者,以做出不同的条件设定。系统打印机---------在测试进行中,点阵打印机就会绘制一份离子含量曲线图表,并且每十秒钟数据点会标识一次。检测结束后,最好的离子含量水平、测试的参数以及所测样品是否合格的情况都会打印出来。

2.:本公司专业维修及销售各国离子污染测试仪。

配件充足 销售各种配件

说明:欢迎各界好友来电咨询技术问题

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